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產品(pin)型(xing)號(hao):
更(geng)新(xin)時間(jian):2025-12-05檢驗(yan)鑄(zhu)鐵方(fang)箱(xiang)廠家(jia)定制(zhi)是壹(yi)種用於檢驗(yan)或劃精(jing)密(mi)工(gong)件(jian)的(de)任(ren)意(yi)角(jiao)度(du)線(xian)的(de)設(she)備(bei),主要用於零部(bu)件(jian)的(de)平行度(du)、垂(chui)直(zhi)度的(de)檢驗(yan)和劃線(xian)。 根(gen)據(ju)材料的(de)不(bu)同(tong),方箱(xiang)可(ke)以(yi)分(fen)為(wei)鑄(zhu)鐵方(fang)箱(xiang)和(he)大(da)理(li)石方(fang)箱(xiang)。鑄(zhu)鐵方(fang)箱(xiang)通(tong)常(chang)由(you)灰(hui)口(kou)鑄(zhu)鐵制(zhi)成(cheng),尺(chi)寸精(jing)度(du)在(zai)0.01毫米之(zhi)內,相鄰平面互(hu)相(xiang)垂(chui)直(zhi),允許(xu)誤(wu)差均在(zai)0.01毫米之(zhi)內。
檢驗(yan)鑄(zhu)鐵方(fang)箱(xiang)廠家(jia)定制(zhi)根(gen)據(ju)用途(tu)可分(fen)為(wei):劃線(xian)方箱(xiang)、檢驗(yan)方箱(xiang)、磁(ci)性(xing)方(fang)箱(xiang)、T型(xing)槽(cao)方箱(xiang)、萬(wan)能(neng)方(fang)箱(xiang)等(deng)。是機(ji)械(xie)制(zhi)造中零部(bu)件(jian)檢測(ce)劃線(xian)等(deng)的(de)基礎設(she)備。



檢驗(yan)鑄(zhu)鐵方(fang)箱(xiang)的(de)工(gong)作(zuo)過程主要包(bao)括(kuo)以(yi)下(xia)步(bu)驟:
壹、檢定前(qian)準(zhun)備
環境條(tiao)件(jian):確(que)保(bao)檢定環(huan)境(jing)為(wei)常溫(wen)、常濕(shi),避免溫度(du)和(he)濕(shi)度對檢定結(jie)果(guo)的(de)影(ying)響。
設備準(zhun)備(bei):準(zhun)備好檢定所(suo)需(xu)的(de)量(liang)塊(kuai)、刀口尺、塗色劑等(deng)工(gong)具和設(she)備(bei)。
方箱(xiang)準(zhun)備(bei):檢查鑄(zhu)鐵方(fang)箱(xiang)的(de)外(wai)觀(guan),確保(bao)各工作面無(wu)銹(xiu)跡(ji)、劃(hua)痕(hen)、裂(lie)紋(wen)、凹(ao)陷(xian)以(yi)及影(ying)響計(ji)量性(xing)能的(de)其(qi)他(ta)缺陷(xian)。非(fei)工作面應清砂(sha)塗(tu)漆(qi),棱(leng)邊(bian)倒(dao)角(jiao)。在(zai)方(fang)箱(xiang)內(nei)壁(bi)應(ying)有標牌,並標有規(gui)格尺(chi)寸、級(ji)別(bie)、出廠編號(hao)、制(zhi)造廠名稱(cheng)等(deng)信(xin)息。
二(er)、檢定過(guo)程
平面度(du)檢定:
對於邊(bian)長(chang)為(wei)300mm及以下(xia)的(de)方(fang)箱(xiang),在(zai)方(fang)箱(xiang)被(bei)檢面的(de)兩(liang)端(duan)各放置1mm的(de)量(liang)塊(kuai),把(ba)刀口(kou)尺放在(zai)量塊(kuai)工作(zuo)面上。
在方箱(xiang)工(gong)作(zuo)面(mian)的(de)縱(zong)向、橫(heng)向(xiang)和(he)對角(jiao)線(xian)方向(xiang)的(de)幾(ji)個(ge)截面(mian)上進(jin)行(xing)檢定,用量塊(kuai)試塞各被檢點,當(dang)量(liang)塊組剛剛塞入時的(de)尺(chi)寸與(yu)兩(liang)端(duan)量(liang)塊(kuai)尺(chi)寸之(zhi)差為(wei)該被檢點對(dui)兩(liang)端(duan)之(zhi)間(jian)的(de)偏(pian)差。
在測(ce)得(de)的(de)各個位(wei)置的(de)直(zhi)線(xian)中,誤(wu)差方向(xiang)壹致(zhi)時取(qu)其(qi)最大(da)值(zhi);當(dang)誤差方向(xiang)不壹(yi)致(zhi)時,取(qu)其(qi)最大(da)正(zheng)差與最(zui)大負差絕對(dui)值(zhi)之(zhi)和,為(wei)該受檢面平面的(de)平面度(du)。
接觸(chu)斑(ban)點檢定(針(zhen)對(dui)刮(gua)研制(zhi)方(fang)箱(xiang)):
除(chu)檢定平面度(du)外(wai),還需(xu)用塗色法檢定接觸(chu)斑(ban)點。
在邊(bian)長(chang)為(wei)25mm任意(yi)正(zheng)方形內,1級(ji)、2級(ji)方箱(xiang)的(de)斑(ban)點(dian)數不(bu)少(shao)於25點(dian),3級(ji)方箱(xiang)的(de)斑(ban)點(dian)數不(bu)少(shao)於20點(dian)。
三(san)、檢定後(hou)處理(li)
記錄結果(guo):詳(xiang)細(xi)記(ji)錄檢定過(guo)程中的(de)各項數據(ju),包(bao)括(kuo)平面度(du)、接觸(chu)斑(ban)點等(deng)。
判定等(deng)級(ji):根(gen)據(ju)檢定結(jie)果(guo),判定鑄(zhu)鐵方(fang)箱(xiang)的(de)精(jing)度(du)等(deng)級(ji)。
處理(li)問(wen)題(ti):如發(fa)現(xian)鑄(zhu)鐵方(fang)箱(xiang)存(cun)在(zai)精(jing)度(du)問(wen)題(ti),需及時進(jin)行(xing)調(tiao)試或刮(gua)研修復。
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